トップページ 商品紹介 ナノテクノロジー関連 走査型伝導度顕微鏡 (CAPRES A/S)

走査型伝導度顕微鏡 (CAPRES A/S)

走査型伝導度顕微鏡 (CAPRES A/S)

CAPRESは、デンマーク工科大学よりスピンオフし1999年に設立されたメーカーで、従来の1000分の1のサイズのマイクロ4ポイントプローブの開発に着手し、2000年と2001年には文科省の国際共同プロジェクトとして、東京大学大学院理学系研究科物理学教室、長谷川修司助教授の研究グループと共同研究を行っています。
同研究の成果は表面科学23号などにおいて共著で発表されました(長谷川修司先生には現在装置販売に関する弊社技術アドバイザーをしていただいております)。
同社が東大と共同開発したマイクロ4ポイント及び12ポイントプローブを利用したスキャニングコンダクティビティーマイクロスコープ(走査型伝導度顕微鏡)は、次の3つの分野におけるR&D,クオリティーコントロールに役立つ新しい技術です。

【重要なお知らせ】

CAPRES 社製品の日本国内での販売・サービスにつきまして、2019 年のKLA グループによるCAPRES 社の買収に伴い、以下のとおりアルテック株式会社からKLA グループによる販売へ移管することとなりました。
大変お手数をお掛けしますが、関係者の皆様で情報共有頂ければ幸甚に存じます。

新規装置販売に関する移管日 2021 年10 月1 日
新連絡先 ケーエルエー・テンコール株式会社
住所 〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい3-7-1
OCEAN GATE MINATO MIRAI
電話 ・アカウント営業部(Account Sales)または営業部(Sales Department)
  045-522-7006
・CRC(カスタマー・レスポンス・センター)
  0120-60-5858 / 045-522-7010
既設装置の保守サービスおよび消耗品販売に関する移管日 2021 年12 月1 日
メーカーサイト https://www.kla.com/ja/company-info

 

R&D,クオリティーコントロールに役立つ3つの分野

  • 現在世界中が注目するMRAM(Magnetic Random Access Memory)をはじめとする、次世代磁気メモリー、磁気ヘッドの開発やクオリティーコントロール。
  • ナノメータースケールの構造・領域の伝導度測定が可能であり、ナノテクノロジーにおける機能性薄膜の開発。
  • 液晶、半導体製造工程における導電性検査。微細加工後の不均一性の測定。又、プロダクトウェハであってもダイレクトで測定が可能であるため、製造工程における用途も広い。

AS営業部特設サイト

 

メーカー CAPRES A/S
関連URL https://advanced.altech.jp/capres/
お問合せ先 AS営業部
ml-sentan@altech.co.jp
Tel : 03-5542-6754
Fax : 03-5542-6766

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